ECM-HAST绝缘电阻劣化（离子迁移CAF） 评估系统是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压，经过长时间的测试（1～1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生，并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试验，我们将其统称为绝缘劣化试验，可进行BHAST试验。在高温高湿条件下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。
特点
1. 高机能：该系统采用高端驱动计测，测试时焊接工序大幅减少，提高了工作效率。
2. 软件设计：软件设计简单明了，直观易操作，方便用户快速上手和进行试验操作。
3. 远程监控功能：系统具备远程监控功能，用户可以随时监控试验过程，确保试验的顺利进行。
4. 构造便利性：系统构造装着脱落式，易进行保养交换，提供了高度的便利性和维护性。
5. 测试自检功能：系统具备点检、校正方便的自检功能，保证试验数据的准确性和可靠性。
6. 设计精巧：系统设计精巧，不受场所限制，易于移动，适应不同环境和测试需求。
7. 可靠性高：系统配有CF卡以防设备故障数据丢失，并以UPS作为系统的支撑，保证试验的安全继续进行。