1、LED光衰
LED光衰是指LED经过一段时间的点亮之后,其光强比初始光强会降低,且不能恢复,即降低的部分称为LED的光衰。目前我国尚未制定LED光衰的定义及通用标准。GB/T24823-2009要求LED模块性能要求规定的光通维持率是在燃点3000h时,其光通维持率应不低于92%仅试用室内灯具的某个产品,业界普遍呼吁国家尽快制定LED光衰标准。
2、LED光衰是光源部件超过耐温极限不可逆的损伤现象
众所周知,LED工作之后其光强会着芯片结温升高而下降,光效随之降低,这是半导体随温度变化的固有的物理特性,只要光源某个部件不超过温度极限而损伤,LED停止之后温度降到原始値,其光强还会恢复如初,也就是说LED不管工作多久、反复多次只要初始光强不变就不能认为光衰,光衰是指光源因长时间工作温度超过极限値而光强恢复不到初始値称为光衰,亦即光通量下降不可逆转才是真正意义的光衰。LED光衰是光源部件超过耐温极限不可逆的损伤现象。
3、目前所有芯片厂和封装厂所标称的光效都是瞬态光效
有人认为美国CREE公司公布的LED芯片结温和之间的关系曲线是LEF光衰曲线,不少人将它视为LED芯片光衰曲线,以至封装厂也将它搜搬抄到出厂规格书中,这是错误的。

上图CREE所公示温度与光通量/光功率关系曲线是基于向用户表达在设计使用中不要让芯片超过一定结温范围,以保障在额定光功率下导致光通量下降或产生光衰。笔者认为这组曲线不是LED芯片光衰的因果关系,它应该是LED光源的光通量和温度有关的多种元件综合曲线。很多人认为这组曲线是单纯芯片光衰原因,并不包括荧光粉、粘胶、支架以及与温度有关的系统部件影响,这是认识误区。LED光源无论是Ta=25℃还是在Ta=85℃温度下测试,都是光源系统在某个特定温度下的稳态测量值,由于稳态光效受温度诸多变量关系影响,测试复杂不够准确,而且时间较长,所以目前所有芯片厂和封装厂对外标称的光效都是瞬态光效,下游用户验收也是如此。
世界上无论哪个公司对外公布产品性能指标必须有可操作性和可重复性,也就是说客户购买你的产品对其规格无法或难以检验,则无法通行。一些国外厂商有意夸大光效超过传统值数倍是没有任何实用意义的,因为LED光效与光衰不是由LED芯片单一因素造成,它与系统热阻诸多条件有关,拿试验室光效说事只有宣传意义没有任何实用意义,某公司如推出303LM/W产品而闭门不推向市场,业界无法理解和认同。再说决定LED光效芯片不是唯一原因,也不是主要原因,用户一味追求某品牌而不重视系统设计是认识误区,会劳而无功、事倍功半。
四、LED光衰原因
1、LED光衰是光源材料损伤而引起的不可逆转的衰减失效现象
LED光衰是指LED经过一段时间的点亮后,其光强会比原来的光强要低,而低了的部分就是LED的光衰,目前我国尚未制定LED光衰标准,行业内部规定5000H小时光通量维持率≥70%,美国能源之星LM-80规定6000H,光通量维持率≥94.1%认为失效。
2、光通量下降不等于光衰
LED工作之后其光强会随着芯片结温升高而下降,光效随之降低,这是半导体随温度变化的固有的物理特性。只要LED光源某个部件不超过温度极限而损伤,LED停止待温度复原后其光强値还会恢复如初,也就是说LED不管工作多久,只要初始光强不变就不能认定为光衰。笔者认为,LED光衰是指LED光源因某种材料损伤不再恢复的失效现象,亦即LED光源在所规定的时间内无损光通量(初始光强)与有损光通量(衰减而不可恢复光强)之比值。
3、LED光源光衰的主要原因是胶体耐温不够
芯片(包括荧光粉)属无机材料,实验证明芯片和荧光粉在二、三百度高温工作原则上不成问题。从光源系统讲,导致LED光衰的主要原因是胶体耐温不够,目前最好的封装胶耐温仅一百多度,测试证明一个50W的集成光源在足够大的散热器工作时胶体温度往往高达200多度,无论是灌封胶还是PPA在长时期高温运行必然会造成胶体龟裂、碳化,与芯片分离进而造成光衰。
(转自中山林恩照明博客)
LED光衰是指LED经过一段时间的点亮之后,其光强比初始光强会降低,且不能恢复,即降低的部分称为LED的光衰。目前我国尚未制定LED光衰的定义及通用标准。GB/T24823-2009要求LED模块性能要求规定的光通维持率是在燃点3000h时,其光通维持率应不低于92%仅试用室内灯具的某个产品,业界普遍呼吁国家尽快制定LED光衰标准。
2、LED光衰是光源部件超过耐温极限不可逆的损伤现象
众所周知,LED工作之后其光强会着芯片结温升高而下降,光效随之降低,这是半导体随温度变化的固有的物理特性,只要光源某个部件不超过温度极限而损伤,LED停止之后温度降到原始値,其光强还会恢复如初,也就是说LED不管工作多久、反复多次只要初始光强不变就不能认为光衰,光衰是指光源因长时间工作温度超过极限値而光强恢复不到初始値称为光衰,亦即光通量下降不可逆转才是真正意义的光衰。LED光衰是光源部件超过耐温极限不可逆的损伤现象。
3、目前所有芯片厂和封装厂所标称的光效都是瞬态光效
有人认为美国CREE公司公布的LED芯片结温和之间的关系曲线是LEF光衰曲线,不少人将它视为LED芯片光衰曲线,以至封装厂也将它搜搬抄到出厂规格书中,这是错误的。

上图CREE所公示温度与光通量/光功率关系曲线是基于向用户表达在设计使用中不要让芯片超过一定结温范围,以保障在额定光功率下导致光通量下降或产生光衰。笔者认为这组曲线不是LED芯片光衰的因果关系,它应该是LED光源的光通量和温度有关的多种元件综合曲线。很多人认为这组曲线是单纯芯片光衰原因,并不包括荧光粉、粘胶、支架以及与温度有关的系统部件影响,这是认识误区。LED光源无论是Ta=25℃还是在Ta=85℃温度下测试,都是光源系统在某个特定温度下的稳态测量值,由于稳态光效受温度诸多变量关系影响,测试复杂不够准确,而且时间较长,所以目前所有芯片厂和封装厂对外标称的光效都是瞬态光效,下游用户验收也是如此。
世界上无论哪个公司对外公布产品性能指标必须有可操作性和可重复性,也就是说客户购买你的产品对其规格无法或难以检验,则无法通行。一些国外厂商有意夸大光效超过传统值数倍是没有任何实用意义的,因为LED光效与光衰不是由LED芯片单一因素造成,它与系统热阻诸多条件有关,拿试验室光效说事只有宣传意义没有任何实用意义,某公司如推出303LM/W产品而闭门不推向市场,业界无法理解和认同。再说决定LED光效芯片不是唯一原因,也不是主要原因,用户一味追求某品牌而不重视系统设计是认识误区,会劳而无功、事倍功半。
四、LED光衰原因
1、LED光衰是光源材料损伤而引起的不可逆转的衰减失效现象
LED光衰是指LED经过一段时间的点亮后,其光强会比原来的光强要低,而低了的部分就是LED的光衰,目前我国尚未制定LED光衰标准,行业内部规定5000H小时光通量维持率≥70%,美国能源之星LM-80规定6000H,光通量维持率≥94.1%认为失效。
2、光通量下降不等于光衰
LED工作之后其光强会随着芯片结温升高而下降,光效随之降低,这是半导体随温度变化的固有的物理特性。只要LED光源某个部件不超过温度极限而损伤,LED停止待温度复原后其光强値还会恢复如初,也就是说LED不管工作多久,只要初始光强不变就不能认定为光衰。笔者认为,LED光衰是指LED光源因某种材料损伤不再恢复的失效现象,亦即LED光源在所规定的时间内无损光通量(初始光强)与有损光通量(衰减而不可恢复光强)之比值。
3、LED光源光衰的主要原因是胶体耐温不够
芯片(包括荧光粉)属无机材料,实验证明芯片和荧光粉在二、三百度高温工作原则上不成问题。从光源系统讲,导致LED光衰的主要原因是胶体耐温不够,目前最好的封装胶耐温仅一百多度,测试证明一个50W的集成光源在足够大的散热器工作时胶体温度往往高达200多度,无论是灌封胶还是PPA在长时期高温运行必然会造成胶体龟裂、碳化,与芯片分离进而造成光衰。
(转自中山林恩照明博客)