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在当今科技飞速发展的时代，光通信技术已成为推动众多领域进步的关键力量，尤其在防务装备系统中，光模块的重要性与日俱增。然而，传统并行光模块在实际应用中却暴露出诸多棘手难题，严重制约了行业的进一步发展。 传统并行光模块因光纤长度差异，导致型号繁杂，这使得用户在选型时犹如置身迷宫，管理过程更是困难重重； 一旦光纤出现断裂，整个模块便宣告报废，造成极大的资源浪费；为保障交付，用户不得不储备大量不同纤长的模块

随着5G技术的快速发展，通讯模块在恶劣环境下的稳定性成为行业关注焦点。为确保5G设备在剧烈温差环境中仍能高效运行，高低温冲击测试成为验证其可靠性的核心环节。5G模块在出厂前需要做测试，主要包括内部关键器件在电工作的电性能测试、失效分析、可靠性评估等，也会模拟在运输, 存储过程中的不通电温度冲击测试。 成都中冷低温高低温冲击热流仪采用纯机械制冷，温度转换从-55℃到+125℃之间转换约10秒，实现宽温区快速切换，可提高测试

芯片测试几乎都离不开温度冲击试验，IGBT芯片更是要经过无数次的可靠性试验才能保证安全高效的投放使用，IGBT需要用温度冲击试验机做一些环境可靠性试验。常见的工业级IGBT可靠性试验包含但不限于以下项目： （1）HTRB（高温反偏）试验：HTRB试验用于验证稳定情况下IGBT的漏电指标可靠性。HTRB试验主要考核焦点是IGBT芯片边缘结构和钝化层，以及与生产相关的离子污染物。在HTRB试验过程中一般可以监测到漏电流随时间的变化。 （2）HTGB（高温栅极

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一、核心技术：突破温控极限的“黑科技” 超宽温域覆盖 支持-90℃至+300℃温度测试，TS790机型可实现-90℃~+225℃全机械制冷（无需液氮辅助），HTS300机型则专注高温冲击。 单机集成制冷/制热双系统，温度切换速度达10秒级（-55℃↔+125℃）。 精准控温能力 采用PID算法与触摸屏交互，温度控制精度±1℃，显示精度达0.1℃。 内置空气干燥器，确保测试环境无水分干扰。 二、明星产品线：从实验室到工业场景全覆盖 三、行业解决方案：为高端制造“上强

中冷低温三温测试台是针对芯片可靠性测试而研发的专用设备，通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与传统气流式高低温设备（热流仪、温箱等）相比具有升降温效率高，操作简单方便，体积小巧，噪音低等特点。 中冷低温三温测试台用于需求高温、低温、高低温进行测试/温度控制的工艺，如：材料特性分析、温度循环测试、快速温变测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验。 中冷低温三温测试台主要特点： （1）广泛的温度

接触式高低温设备 Max TC G4主要特点总结 该型号主机功率较大，可以满足大部分的芯片测试要求，即使DUT的热功耗达到30W该设备也可以轻松达到-40°C并长时间稳定在该温度点，并且成本与Fex TC相差不是很下。 升降温速率快: 从常温+25降到-40c小于2min，从+125C降到常温+25°C小于2min。Max TC G4具有很高的性价比，也是目前客户最多的选择，代表客户有华为海思半导体主机重量适中( 52Kg )，尺寸( L) 610mm x(W) 505mm x(H)365mm，可以很方便地移动。 噪音较小，可以给测

在当今科技飞速发展的时代，光通信技术已成为推动众多领域进步的关键力量，尤其在防务装备系统中，光模块的重要性与日俱增。然而，传统并行光模块在实际应用中却暴露出诸多棘手难题，严重制约了行业的进一步发展。 传统并行光模块因光纤长度差异，导致型号繁杂，这使得用户在选型时犹如置身迷宫，管理过程更是困难重重； 一旦光纤出现断裂，整个模块便宣告报废，造成极大的资源浪费；为保障交付，用户不得不储备大量不同纤长的模块

MaxTC Power Plus拥有灵活的设计，满足不同封装及接口需求。Max TC Power Plus用一个冷热头与被测器件的直接接触，使被测器件能精确地达到所需的温度。 三温测试台 MaxTC Power Plus是以色列Mechanical Devices公司研发的针对芯片可靠性测试的专用设备，通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与传统气流式高低温设备（热流仪、温箱等）相比具有升降温效率高，操作简单方便，体积小巧，噪音低等特点。 中冷低温为大多数三温测试台 应用与维修提

接触式高低温测试设备Mid TC维修 Mid TC用于集成电路、芯片和电子产品的表征、测试和失效分析。Mid-TC是一款单独的即插即用系统，需要110-208VAC16A墙壁插座和清洁干燥的空气或氮气，在冷测试期间可实现无冷凝操作。 中温台式温度迫使系统提供了一个高响应性的导热路径，以快速感应被测器件的温度。这个高度可靠的系统-没有热电模块使用的热探头TCS直接匹配您的IC或其他被测器件。使用专有的、强大的制冷技术，可以进行热循环，而不必担心冷却性

中冷低温 接触式高低温设备ThermoTST ATC系列采用先进的设计和技术，具有广泛的温度范围：- 75℃至+200℃，通过与接触头直接接触，精确地持续刺激DUT达到所需的温度。 ThermoTST ATC系列通过接触头与DUT之间直接接触，将DUT的温度(壳温或者结温)调整到目标温度点进行相应的性能测试。同时适用于已焊接的芯片和使用socket的芯片，可以真正做到只控制待测芯片温度而不影响外围电路，排除外围电路引起的不确定性。 中冷低温 接触式高低温设备ThermoTST ATC系

类型 500V *1 1000V 通道数 32通道/64通（可选） 工作时间 1~9999小时 偏置电压 -100~+500VDC -100~+1000VDC 记性反转 具备 共负极测试（可选） 具备 CAF测试（可选） 具备 测试电压 1.0-99.9VDC (0.01V 步进) 100-500VDC (0.1V 步进) 1.0-99.9VDC (0.01V 步进) 100-1000VDC (0.1V 步进) 评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压，经过长时间的测试（1～1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生，并记录电阻值变化状况，故又

HAST（Highly Accelerated Stress Test）高加速寿命老化试验箱，是一种在芯片行业中广泛应用的测试方法，它专门用于模拟芯片在实际应用中可能遭遇的极端环境和高温高湿的工作条件。通过这种方法，我们能够在短时间内检验芯片的可靠性和寿命，从而确保产品在投入市场后能够稳定运行。 HAST高加速寿命老化试验箱测试的原理在于将芯片置于一个高温高湿的环境中，并进行一定时间的加速老化测试。这种环境模拟了芯片在长时间使用后可能面临的各种挑战

中冷低温HAST-400老化试验箱是一种高加速的湿度和温度应力测试，是在模拟芯片在实际使用过程中可能遇到的各种湿度和温度条件。通过模拟高温高湿环境，加速芯片内部可能发生的物理和化学变化，从而在短时间内预测芯片的长期可靠性。 中冷低温HAST-400老化试验箱的重要性 1. 预测长期可靠性：HAST测试能够模拟芯片在长时间使用过程中的老化过程，帮助制造商预测产品的长期可靠性。 2. 识别潜在问题：在测试过程中，HAST能够揭示芯片设计或制造过

1、贴片（Die bond）工序 设备:多芯片贴片机固晶机 品牌型号:Datacon 2200evo 设备能力:贴片精度±10um 多芯片贴装 自动点胶贴片 2、清洗（Plasma）工序 设备:等离子电浆清洗机 品牌型号:Nordson March AP–1000 设备能力: 3、键合（wire bond）工序 设备:全自动金丝键合机 品牌型号:KS IConn Plus 设备能力:焊线精度:±2um 金丝线径:20-50um

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国产之选：HSO8-400-DR-C2S —— 英伟达MMS4X00-NS400与MMA4Z00-NS400的高效替代 在不断演进的网络技术领域，高速、可靠的连接是数据中心和高性能计算平台的核心需求。武汉英飞科光电科技有限公司推出的HSO8-400-DR-C2S光收发器模块，以其卓越的性能和兼容性，成为英伟达MMS4X00-NS400与MMA4Z00-NS400的理想国产替代品。 HSO8-400-DR-C2S：性能卓越的国产替代品HSO8-400-DR-C2S光收发器模块是一款400G OSFP112 DR4 SiPh光收发器模块，专为满足现代数据中心网络的需求而设计。它不

英伟达平替清单： 1心相系情未了， 8方风雨共舟行。 6月荷香满池塘， 7色彩虹挂天际。 2人携手步青云， 7里长亭送别离。 7弦琴音绕梁响， 6桥烟柳映斜阳。 9重天上觅知音， 5湖四海皆为邻。 9万里路不觉远， 联系此刻最相亲。

天府智算中心（二期）项目服务采购项目的招标信息可以归纳如下： 一、项目概况 项目名称：天府智算中心（二期）项目服务采购项目 二、招标内容 训练算力集群服务： 500PFLOPS训练算力服务 算力调度服务 集群部署服务 集群所需IDC租赁服务 互联网出口带宽网络服务 异地传输专线网络服务 训练算力集群所需运维服务等 推理算力集群服务： 500PFLOPS推理算力服务 算力调度服务 集群部署服务 集群所需IDC租赁服务 互联网出口带宽网络服务 异地传输专线

国产卓越替代：HSD1-400-DR-C2S —— 英伟达MMS1V00-WM的优选方案 在高速网络通信领域，英伟达MMS1V00-WM光收发器模块以其卓越的性能赢得了市场的广泛认可。然而，随着技术的不断进步和成本效益的考量，寻找一款性能相当且更具价格优势的国产替代品成为了众多企业的需求。HSD1-400-DR-C2S光收发器模块，正是这样一款能够完美替代英伟达MMS1V00-WM的产品。 HSD1-400-DR-C2S：性能与兼容性的完美结合HSD1-400-DR-C2S光收发器模块是一款400G QSFP-DD DR4 SiPh光收发器模块，

英伟达MMA1Z00-NS400国产替代：HSQ4-400-DR-C2S光收发器模块 在高性能计算和数据中心网络领域，NVIDIA的MMA1Z00-NS400光收发器模块一直是行业的标杆。然而，随着技术的不断进步和市场需求的增长，寻找性能相当且成本效益更高的替代方案成为了众多企业的追求。武汉英飞科光电科技有限公司推出的HSQ4-400-DR-C2S光收发器模块，正是这样一款能够完美替代NVIDIA MMA1Z00-NS400的产品。为什么选择HSQ4-400-DR-C2S？ 高性能与兼容性HSQ4-400-DR-C2S光收发器模块专为400G以太网通

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ThermoTST ATC860接触式高低温冲击设备将DUT的温度精确地控制在所需的范围内，高温或者低温，都能迅速达到并保持稳定。 设备不仅适用于已焊接的芯片，也适用于使用socket的芯片，真正做到了只控制待测芯片的温度而不影响外围电路，排除了外围电路引起的不确定性。在这个过程中，设备通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，这种方式比传统的气流式高低温设备（如热流仪、温箱等）更加高效，操作起来也更加简单方便。 设备还有的特

接触式高低温设备通常配备有直观的操作界面和便捷的控制方式，使得用户可以轻松设置温度、查看历史数据记录等。同时，这些设备还支持多种接口和定制选项，以适应不同尺寸和接口的样品测试需求。中冷研发的接触式芯片高低温冲击设备气流仪ATC等系列产品具有高效、稳定、可靠的性能和灵活的操作方式。

ThermoTST ATC系列接触式高低温冲击机通过接触头与DUT之间直接接触，将DUT的温度(壳温或者结温)调整到目标温度点进行相应的性能测试。同时适用于已焊接的芯片和使用socket的芯片，可以真正做到只控制待测芯片温度而不影响外围电路，排除外围电路引起的不确定性。 温度控制单元具有高功率和高灵活性的特点，可以通过定制来适应不同的芯片封装和接口。该系统允许对各种功率、尺寸和类型的芯片施加温度，无论是使用 Socket还是已经焊接到 PCB 上的

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热流仪是一种通过提供不同的温变环境来检测待测试样的耐温变性的设备。它主要包含热冲击和温度循环两种检测模式，能够对热环境进行精确控制，控温精度可低至±0.1℃。其内部热环境可在秒量级中快速变化，采用直接温度控制的冷/热空气流来提供精确的热环境。 热流仪广泛应用于多个领域，包括但不限于： 电子工业：用于电子元件、IC芯片、PCB基板等产品的热试验和表征，以提高产品的可靠性。 航空与国防：在航空和国防工业中，热流仪用于

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HAST高加速老化试验箱 有饱和和不饱和两种。前者通常在 121°C 和 100% RH 的条件下进行，而后者通常在 110、120 或 130°C 和 85% RH 的条件下进行。在电子元件通电的情况下进行的测试通常是不饱和类型。HAST 测试，加速因子从几十到几百倍不等。这种加速使得检查故障模式变得很重要。 此方法广泛应用于PCB、IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业，用于评估产品的密封性、吸湿性及老化性能。HAST已成为某些行业标准，

提到气候试验，首先想到温度试验，包括高温试验、低温试验、温度循环试验，产品在使用过程中会经历温度的交替变化，内外温度变化都是很大的，该试验通过高温与低温之间的循环检测产品，在这种交替温度环境下的可靠性，循环次数、高温和低温保持时间，升降温的速率都是试验的重要参数。 接触式高低温冲击机，能满足高温或者低温条件下带电测试需求，系统可以在IC上提供快速和准确的温度转换，即使是在设备功率变化的情况下，也可以使

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接触式三温测试台通常配备有直观的操作界面和便捷的控制方式，使得用户可以轻松设置温度、查看历史数据记录等。同时，这些设备还支持多种接口和定制选项，以适应不同尺寸和接口的样品测试需求。 接触式三温测试台采用桌面式设计，具有低噪音、低震动的特点，为测试人员创造了一个安静、稳定的工作环境。 通过优化制冷/加热系统设计和采用新型节能材料，降低设备能耗，减少对环境的影响。相比传统的大型高低温测试设备，接触式高低温

Max tc测试时出现温度不稳定的情况，可能由多种因素导致，主要有一下原因: 1.设备自身问题 电源不稳定：电源电压波动可能导致设备内部温度控制不稳定。 传感器故障：温度传感器损坏或精度下降，无法准确反映测试头的实际温度。 控制系统问题：控制系统故障或参数设置不当，导致温度控制不稳定。 2.测试环境干扰 外部温度波动：测试环境温度的波动可能影响设备的温度稳定性。 空气流通不畅：测试设备周围的空气流通不畅，可能导致温度分布

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